FMP52采用耐腐蚀的PTFE无缝涂层探杆，用于腐蚀性液体的液位测量。所有的接液部件均采用FDA认证的材质。即使液面出现波动，FMP52也能保持稳定的测量值。Levelflex FMP52既用于液体、浆料和泥浆的连续性物位测量，也用于界面测量。测量值不受介质变化、温度变化、气体覆盖或蒸汽的影响。E+H FMP52导波雷达物位计

测量原理：

Levelflex 是基于 ToF (行程时间)原理工作的“俯视式”测量系统。对参考点至介质表面间的距离进行测量。高频脉冲信号被发射至探头，并沿探头传播。脉冲信号在介质表面发生反射，反射信号被仪表接收，并被转换成物位信息。此测量方法即为 TDR 法(时域反射法)。介电常数(DC)介质的介电常数(DC)直接影响高频脉冲信号的反射率。测量大介电常数(DC)的介质时(例如：水和氨水)，高频脉冲反射信号强；相反，测量小介电常数(DC)的介质时(例如：碳氢化合物)，脉冲反射信号弱。输入脉冲反射信号沿探头传输至仪表后， 由其中的微处理器进行信号分析，识别出高频信号在物料表面真正的反射回波。仪表使用的信号识别算法(PulseMaster®软件)凝聚了 30 年基于行程时间技术的测量经验。测量参考点至介质表面间的距离(D)与脉冲信号的运行时间(t)呈比例关系：

D = c · t/2

其中，c 为光速。

空标高度(E)已知时，物位(L)的计算公式如下：

L = E – D

测量参考点(R)在过程连接处。请参考外形尺寸示意图：

• FMP51：(→   63)(→   64)

• FMP52：(→   66)

• FMP54：(→   67)

Levelflex 具有干扰回波抑制功能，可以由用户自行激活。该功能确保了干扰回波(例如：内部装置

和焊缝产生的干扰回波)不会被误识别为真正的物位回波。

优势

• 即使在多变的测量产品或过程条件下，依然保持可靠测量
• HistoROM集成数据存储单元，带来快速便捷的调试、维修和诊断
• 多回波追踪创新技术，为测量结果带来高度可靠性
• 硬件与软件根据IEC 61508标准开发，达到SIL3级别
• 无缝集成到控制或设备管理系统
• 直观的引导式菜单（现场或通过调试系统），中文菜单显示，减少培训、维修与操作成本
• 通过世界 的SIL和WHG实验认证，节约您的时间与经济成本

应用领域
可选择杆式或缆式测量。